圖控程式與自動量測:使用LabVIEW 7.X

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作者:周靜娟, 吳明瑞, 顏培仁編著

出版年:2008[民97]

出版社:全華圖書

出版地:臺北縣土城市

格式:PDF,JPG

ISBN:9789572164006 ; 9572164007

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本書使用的是目前LabVIEW的最新版本7.1,並以深入淺出的方式引導讀者進入LabVIEW的領域,了解何謂圖形程式語言,並附例題於內文中,以便讀者練習。可以透過本書學習基本的程式設計與一些電子元件及電路的量測。本書共有十二章,除了前面八章是基礎的內容外,第九章是進階的部分,透過進階處理可以讓您的程式顯得更加專業,第十章是屬於網路監控部分,第十一章需要使用GPIB卡及具有GPIB介面功能的儀器方能完成量測實驗,至於第十二章則需要擁有DAQ卡才可以完成量測的實驗。閱讀本書將可以使用LabVIEW撰寫量測之相關程式及遠端監控之應用。適用於大學、科大電子、電機系『自動量測實習』、『自動控制實習』課程或業界相關人士及有興趣之讀者。

本書特色:

1.本書使用的是目前LabVIEW的最新版本7.1。
2.以深入淺出的方式引導讀者進入LabVIEW的領域,了解何謂圖形程式語言,並附例題於內文中,以便讀者練習。
3.閱讀本書將可以使用LabVIEW撰寫量測之相關程式及遠端監控之應用。
4.適用於大學、科大電子、電機系『自動量測實習』、『自動控制實習』課程或業界相關人士及有興趣之讀者。

  • 附錄B LV7.1與較早版本比較表(p.B-1)
  • 附錄D SCPI的使用(p.D-1)